硅材料综合测试仪

硅材料测定仪采用四探针测量原理（四探针探头间距为1.59mm），具有P/N分选、电阻率分档、P/N报警以及预设样片厚度，自动修正，显示电阻率等功能；电阻率范围为0.001-200欧姆厘米，P/N型号范围为0.1欧姆厘米<电阻率<200欧姆厘米。