四探针电阻率测定仪（方块电阻测试仪、方阻测定仪）可根据不同材料的要求选择测试探头；碳化钨探针探头用于测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；镀金铜合金探针探头用于测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高校和科研对导体、半导体材料导电性能的测量。

规格参数：

测量范围

              电阻率：10µΩ･cm～200kΩ･cm

              方块电阻：50µΩ/□～1MΩ/□

              模拟电阻：10µΩ～200kΩ

测量精度

              电阻率：4%

              方块电阻：4%

              模拟电阻：0.1%

测量速度：10次/秒、5次/秒、2次/秒

触发方式：内部、手动、外部

测量精度：0.5%

数据接口：RC 232C

环境温度：0-45℃

相对湿度：≤95%RH